PIN152603 | サイプレスセミコンダクタ

PIN152603

最終更新日:

2017 年 11 月 07 日

Issue Date: 2015年6月29日
Effectivity Date: 2015年6月29日

Qualification of Test 25 (Austin, Texas) as an Additional Wafer-Level Test Location.

ファイル名	言語	サイズ	最終更新日
PIN152603 Affected Parts List.xls	英語	95 KB	11/07/2017
PIN152603.zip	英語	115.05 KB	07/03/2015