PIN152603 | サイプレス セミコンダクタ
PIN152603
最終更新日:
2017 年 11 月 07 日
Issue Date: 2015年6月29日
Effectivity Date: 2015年6月29日
Qualification of Test 25 (Austin, Texas) as an Additional Wafer-Level Test Location.
関連ファイル
| ファイル名 | 言語 | サイズ | 最終更新日 |
|---|---|---|---|
 PIN152603 Affected Parts List.xls |
英語 | 95 KB | 11/07/2017 |
 PIN152603.zip |
英語 | 115.05 KB | 07/03/2015 |