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AN96475 - Design Considerations for Electrical Fast Transient Immunity of a CapSense® System | サイプレス セミコンダクタ

AN96475 - Design Considerations for Electrical Fast Transient Immunity of a CapSense® System

最終更新日: 
2020 年 6 月 03 日
バージョン: 
*A
AN96475 describes best practices for improving the electrical fast transient (EFT) immunity of a CapSense system. This application note discusses failures that can occur in a CapSense system during an EFT test and recommends measures that can improve immunity. This application note focuses on considerations for a CapSense system. For a greater insight into EFT and how it affects microcontrollers in general, see AN80994.
翻訳版のドキュメントは参照用です。設計開発に携わっている場合には、英語版のドキュメントを参照されることをお勧めします。